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工業(yè)硅中鐵鋁鈣錳鈦鎳銅鉻釩鈉硼含量測定儀

簡要描述:工業(yè)硅中鐵鋁鈣錳鈦鎳銅鉻釩鈉硼含量測定儀
GB/T 14849.4-2014是中華人民共和國國家標準,主要規(guī)定了工業(yè)硅中雜質元素含量的測定方法,特別是采用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)進行測定。這一方法結合了原子發(fā)射光譜法的多元素同時測定優(yōu)點和較寬的線性范圍,適用于固、液、氣態(tài)樣品的直接分析。

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  • 更新時間:2025-01-23
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工業(yè)硅中鐵鋁鈣錳鈦鎳銅鉻釩鈉硼含量測定儀

工業(yè)硅化學分析方法 第4部分 雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法介紹

一、概述

GB/T 14849.4-2014是中華人民共和國國家標準,主要規(guī)定了工業(yè)硅中雜質元素含量的測定方法,特別是采用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)進行測定。這一方法結合了原子發(fā)射光譜法的多元素同時測定優(yōu)點和較寬的線性范圍,適用于固、液、氣態(tài)樣品的直接分析。

二、技術特點

  1. 多元素同時測定:ICP-AES技術允許同時對主、次、痕量元素成分進行測定,提高了分析效率。

  2. 寬線性范圍:該技術具有較寬的線性范圍,使得在測定不同濃度的元素時都能得到準確的結果。

  3. 直接分析:ICP-AES技術適用于固、液、氣態(tài)樣品的直接分析,無需復雜的樣品前處理過程。

三、測定步驟

雖然具體的測定步驟在GB/T 14849.4-2014中詳細規(guī)定,但通常ICP-AES法的分析過程可以概括為以下幾個步驟:

  1. 樣品準備:將工業(yè)硅樣品進行適當的處理,如研磨、溶解等,以便進行后續(xù)的測定。

  2. 激發(fā):利用電感耦合等離子體作為激發(fā)光源,使樣品中的元素原子化并激發(fā)到高能級。

  3. 發(fā)射光譜:被激發(fā)的原子在回到基態(tài)時會發(fā)射特定波長的光,形成發(fā)射光譜。

  4. 光譜分析:通過光譜儀器將發(fā)射光譜分解為按波長排列的光譜線,利用光電器件檢測光譜,并進行定性和定量分析。

四、應用領域

規(guī)定的ICP-AES法不僅適用于工業(yè)硅中雜質元素含量的測定,也廣泛應用于冶金、機械、地質、環(huán)保、生化樣品分析以及食品安全監(jiān)控等多個領域。

五、總結

中的電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法是一種高效、準確、多功能的分析技術,對于工業(yè)硅中雜質元素含量的測定具有重要意義。通過該技術,可以實現對工業(yè)硅中多種雜質元素的快速、準確測定,為工業(yè)硅的質量控制提供有力支持。

工業(yè)硅中鐵鋁鈣錳鈦鎳銅鉻釩鈉硼含量測定儀

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